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智慧工厂产品 — 晶圆瑕疵检测


威盛智慧工厂

晶圆瑕疵检测


采用威盛智能工厂晶圆瑕疵检测加快侦测瑕疵晶圆的速度。


VIA AI Wafer Visual Inspection Solution_image.jpg


此套先进技术解决方案采用优化AI模型,通过分析工业摄影机拍摄的晶圆影像识别瑕疵,可适用于各种尺寸的晶圆。其通过减少注意力不足、疲倦和误判等人为失误,精准识别出最细微的瑕疵,以达到将近100%的检测率,且误检率低于5%。


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威盛智能工厂晶圆瑕疵检测是通过自动化检测流程,协助硅晶圆制造公司和组装厂大幅提高厂房的效率和操作员的安全性。此套解决方案结合了效能强大的Edge AI处理能力,以及与ERP网络或企业云端无缝衔接的特性,提供详细完整的数据分析数据,企业可以善用这些数据,进一步提高其运作效率和安全性。


主要特性

威盛智慧工厂晶圆瑕疵检测可以快速、轻松地部署,且可扩充至多条生产线。此套解决方案可以进行优化以满足特定的使用需求,包含以下要件:

   箭头.png搭载NVIDIA RTX GPU的高效AI推论和训练服务器

   箭头.png分析影像的优化晶圆瑕疵侦测AI模型

    箭头.pngUSB工业摄影机


核心优势

    箭头.png瑕疵检测率已提高至将近100%

    箭头.png实现误检率低于5%

    箭头.png尽量降低人员配置成本和潜在的人为失误

   箭头.png结合无缝网络衔接快速轻松地部署

   箭头.png减少暴露在强光和化学物品中的机会,以提高员工的安全性


应用示例

威盛智慧工厂晶圆瑕疵检测已经协助全球领先的半导体公司之一,加速瑕疵侦测流程、降低人员配置成本,并创造出更安全、干净的环境。


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